回路電阻測(cè)試儀現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試容易出現(xiàn)的問(wèn)題

根據(jù)傳統(tǒng)設(shè)計(jì)原理設(shè)計(jì)的回路電阻測(cè)試儀（又叫接觸電阻測(cè)試儀）在現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試時(shí)，發(fā)現(xiàn)存在一個(gè)共同的問(wèn)題。當(dāng)測(cè)試儀的電壓連接電路接觸不良或開(kāi)路時(shí)，測(cè)試儀也會(huì)顯示一個(gè)數(shù)值，此時(shí)會(huì)出現(xiàn)以下情況：

（1）電壓回路開(kāi)路，試驗(yàn)現(xiàn)場(chǎng)無(wú)強(qiáng)電場(chǎng)干擾，在這種情況下，由于放大器輸入的差模電壓基本為0，所以?xún)x器顯示的測(cè)試值接近0。如果測(cè)試儀有足夠的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試經(jīng)驗(yàn)，可以判斷儀表電壓回路的異常測(cè)試線(xiàn)異常，返回儀表電壓。排除異常測(cè)試路徑后，可以得到最終正確的測(cè)試結(jié)果。

（2）電壓回路接觸差，在大多數(shù)情況下，斷路器的端子在長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行后會(huì)在端子外表面產(chǎn)生氧化膜或油膜。當(dāng)電路電阻器的電壓測(cè)試鉗夾緊在這樣的端子條上時(shí)，可能會(huì)有不良的接觸。當(dāng)電壓測(cè)試線(xiàn)夾本身也產(chǎn)生一定的接觸電阻時(shí)，接觸電阻值與電壓采樣電路的內(nèi)阻值相同。會(huì)對(duì)測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生嚴(yán)重影響。

（3）電壓回路開(kāi)路或接觸不良（開(kāi)路時(shí)，可見(jiàn)接觸電阻r1為無(wú)窮大），試驗(yàn)現(xiàn)場(chǎng)有強(qiáng)電磁干擾，如帶電母線(xiàn)。此時(shí)，帶電總線(xiàn)以空氣為介質(zhì)通過(guò)電容，干擾測(cè)試儀的兩條電壓測(cè)試線(xiàn)。由于干擾，回路電阻測(cè)試儀的電壓采集線(xiàn)是兩條。差模電壓出現(xiàn)在末尾。